なつたん

いろいろとあったので、High Performance Memory Testingを買って勉強中。

chapter 9にメモリの試験のパターンがのっている。

最初はZero-oneパターン

W0　(all address)
R0　(all address)
W1　(all address)
R1　(all address)

ようするに、全アドレスに対して0クリアーして読み出し、次に
1を書き込んで読み出し。
試験に必要な時間は4N（それぞれのアドレスが4回アクセスされる。)
データ出力の0固定、1固定といったエラーは100％検出できる。

上位のアドレス線が死んでいる場合や、リードとライトでデータが
ひっくり返るようなエラーは検出できない。