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2006.06.29

メモリテストその1 (Zero-One Pattern)

いろいろとあったので、High Performance Memory Testingを買って勉強中。

chapter 9にメモリの試験のパターンがのっている。

最初はZero-oneパターン

W0 (all address)
R0 (all address)
W1 (all address)
R1 (all address)

ようするに、全アドレスに対して0クリアーして読み出し、次に
1を書き込んで読み出し。
試験に必要な時間は4N(それぞれのアドレスが4回アクセスされる。)
データ出力の0固定、1固定といったエラーは100%検出できる。

上位のアドレス線が死んでいる場合や、リードとライトでデータが
ひっくり返るようなエラーは検出できない。

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